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    • LK-1200 Pro臺式三維根系分析儀
      LK-1200 Pro臺式三維根系分析儀

      更新時間:2025-05-09

      型號:LK-1200 Pro

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      LK-1200 Pro臺式三維根系分析儀專為洗根后進行旋轉成像設計,可以連續大量的對植物根系進行二維和三維成像分析,每天可以測量幾百個植物樣品;可以根據需要對根系不同角度進行連續的旋轉成像;結合專業的控制軟件和圖像分析,可以測量整個植物根系的長度、直徑、面積、生物量以及根深、根頂寬、根底寬、根層最大寬等三維根系拓撲結構;此外,儀器配置了掃碼槍,可以自動生成根系樣品的圖像名稱,節約了測量時間。
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    • LT-1T植物葉片溫度傳感器
      LT-1T植物葉片溫度傳感器

      更新時間:2025-05-09

      型號:LT-1T

      瀏覽量:1929

      植物葉片溫度傳感器,LT-1T葉片溫度傳感器是種超微型觸摸探頭,用于測量葉片的絕對溫度,微型探頭及其特殊設計對葉片溫度的干擾幾乎可以忽略不計。不銹鋼線夾裝有高精度熱敏電阻,熱敏電阻通常位于葉片的下側,與葉片的溫度達到平衡。熱敏電阻通過 0.15 mm 的細導線連接到夾子上,最大限度地減少熱傳導和響應時間。所有導線都經過防潮處理,避免在潮濕條件下發生腐蝕。
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    • DE-1T莖稈生長傳感器
      DE-1T莖稈生長傳感器

      更新時間:2025-05-09

      型號:DE-1T

      瀏覽量:1718

      DE-1T 莖稈生長傳感器是一種基于 LVDT 的高精度增量傳感器,用于監測微米范圍內樹干半徑變化。該傳感器包含一個線性位移傳感器 (LVDT),安裝在螺紋端的特殊桿上。當螺紋桿固定在樹干內時,LVDT桿跟隨樹干表面運動,其輸出信號隨樹干表面和LVDT固定端之間的距離而變化。適合監測樹干或莖直徑的變化,且與環境變量和樹干水分相關聯。適用于園藝樹木作物,例如杏仁、柑橘、開心果、核果等。
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    • FI-LT/FI-MT/FI-ST果實生長傳感器
      FI-LT/FI-MT/FI-ST果實生長傳感器

      更新時間:2025-05-09

      型號:FI-LT/FI-MT/FI-ST

      瀏覽量:2003

      FI-LT/FI-MT/FI-ST果實生長傳感器在7-160mm三個直徑范圍內,完整的記錄了圓形果實的大小和生長率。該傳感器可以研究灌溉率和其他環境因素對水分平衡和水果生長的影響。該傳感器由 LVDT 傳感器和直流電源信號調節器組成,安裝在特殊夾子中。廣泛應用于監測果實大小和收獲管理。
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    • SD-5T/SD-10T莖稈生長傳感器
      SD-5T/SD-10T莖稈生長傳感器

      更新時間:2025-05-09

      型號:SD-5T/SD-10T

      瀏覽量:1764

      SD-5T和 SD-10T莖稈生長傳感器采用*的技術來精確測量莖的生長動態。該傳感器是一種基于LVDT的高精度增量傳感器,用于監測微米范圍內莖稈直徑變化;由LVDT探頭和一個直流電源信號調節器組成,安裝在特殊固定支架上。適用于監測作物的種植以及*的科學研究項目。
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    • HPV06莖流傳感器
      HPV06莖流傳感器

      更新時間:2025-05-09

      型號:HPV06

      瀏覽量:1869

      HPV06植物莖流傳感器是一種低成本、高精度的傳感器,用于測量植物的莖流以及莖桿含水量??梢詼y量植物中可觀察到的整個熱速度和液流。采用DMA熱脈沖方法,該傳感器是一種三探針設計,上下兩個溫度探針,中間連接一個加熱針,可以在正向(即從根部到樹冠)和反向(即從樹冠到根部)測量液流。
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    • MIJ-15LAI/P便攜式葉面積指數儀
      MIJ-15LAI/P便攜式葉面積指數儀

      更新時間:2025-05-09

      型號:MIJ-15LAI/P

      瀏覽量:1813

      MIJ-15LAI/P便攜式葉面積指數儀是日本EMJ公司生產的便攜式儀器,該儀器可以在隨身攜帶進行廣泛的測量,采用光譜測量方法(PAR (400-700 nm) 和 NIR (700-1000 nm)),僅在葉片中含有葉綠素的部位反射和吸收,通過NIR和PAR的光譜透射率之比來測量葉面積指數,與樹冠外光環境無關,因此,無需考慮天氣狀況,只需設置在樹冠或樹葉下即可測量。
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    • MIJ-15LAI/K2固定式葉面積指數儀
      MIJ-15LAI/K2固定式葉面積指數儀

      更新時間:2025-05-09

      型號:MIJ-15LAI/K2

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      MIJ-15LAI/K2固定式葉面積指數儀是日本EMJ公司生產的固定式儀器,該儀器適用于定點觀察,采用光譜測量方法(PAR (400-700 nm) 和 NIR (700-1000 nm)),僅在葉片中含有葉綠素的部位反射和吸收,通過NIR和PAR的光譜透射率之比來測量葉面積指數,因此,無需將傳感器安裝在頂篷外,只需將本裝置安裝在頂篷內即可獲得連續數據,當本機安裝數據記錄儀時,可以以無人靜止的方式
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